РД 50-706-91: Методические указания. Надежность в технике. Методы контроля надежности изделий по параметрам технологического процесса их изготовления

Терминология РД 50-706-91: Методические указания. Надежность в технике. Методы контроля надежности изделий по параметрам технологического процесса их изготовления:

1. Анализ на уровне ИПД

1.1. Анализ сводится к выделению (из рассматриваемой номенклатуры) ИПД, для которых разработка мероприятий по уменьшению частоты их появления (т.е. снижению вероятности p_i)наиболее эффективна с точки зрения корректировки параметров функции распределения F₀(t)и обеспечения требуемых значений показателей надежности.

1.2. Для проведения анализа ТП изготовления невосстанавливаемых изделий целесообразно строить эмпирическую функцию интенсивности отказов по данным о значениях p_iдля рассматриваемых ИПД и соответствующих их наработках Т_i.

Эмпирическая функция интенсивности отказов представляет гистограмму, которая на интервалах времени

принимает значения

соответственно.

Пример такой функции представлен на черт. 1. Исходные данные для построения функции приведены в табл. 1.

Черт. 1

В соответствии с гистограммой наибольшая интенсивность отказов связана с появлением первого, второго и четвертого ИПД, снижение вероятностей появления этих ИПД позволит наиболее существенно изменить параметры функции распределения F₀(t).

Таблица 1

Обозначение i-гo ИПД (порядковый номер в ранжированном ряду)	Средняя наработка до отказа из-за i-гo ИПД	Вероятность появления i-гo ИПД Pi
1	100	0,05
2	500	0,15
3	1000	0,1
4	4000	0,2
5	6000	0,05
6	9000	0,10
7	13000	0,15

Таблица 2

Обозначение i-гo ИПД (порядковый номер в ранжированном ряду)	Вероятность появления i-гo ИПД Pi
1	0,2
2	0,15
3	0,15
4	0,05
5	0,03
6	0,01

Черт. 2

1.3. Для проведения анализа ТП изготовления восстанавливаемых изделий целесообразно строить график причин отказов в виде диаграммы Парето. При составлении графиков ранжируют ИПД по значениям вероятностей p_iи строят кривую накопленных частостей (в долях единицы). При определении ИПД, лимитирующих надежность изделия, отмечают на шкале накопленных частостей значение (М - М_пр) и выделяют ИПД, суммарная частота отказов которых не менее этого значения.

Пример графика причин отказов представлен на черт. 2. Исходные данные для построения приведены в табл. 2.

Анализ графика показывает, что для порогового значения М_пр = 0,30 и М - М_пр = 0,29 (см. табл. 2) ликвидация первого и второго ИПД в изделиях позволит обеспечить требуемую надежность, так как в этом случае значение М составит: 0,15 + 0,05 + 0,03 + 0,01 = 0,24, что меньше, чем пороговое значение М_пр = 0,3.

1.4. Во всех случаях при проведении анализа рекомендуется учитывать затраты на разработку и реализацию мероприятий по уменьшению влияния отдельных ИПД. При этом, если известна зависимость затрат от изменения частости появления i-гo ИПД (для i = 1, ..., N), может решаться задача определения оптимального набора ИПД для проведения мероприятий по снижению их влияния на надежность.

Метод решения зависит от принятой целевой функции оптимизации и установленных ограничений.

Определения термина из разных документов: Анализ на уровне ИПД

3. Анализ на уровне технологических факторов

При определении состава основных технологических факторов, существенно влияющих на выполнение требований к j-му лимитирующему параметру ТП, (ИПД) целесообразно использовать схемы причинно-следственных связей (схемы Исикава).

При построении схем причинно-следственных связей результат (в данном случае - лимитирующий параметр ТП) изображается центральной стрелкой. Явления (факторы), прямо или косвенно влияющие на результат, изображают в виде стрелок, направленных острием к центральной линии (стрелке). При составлении схемы расположение стрелок, углы их наклона и другие формальные признаки не регламентируются и должна соблюдаться лишь подчиненность явлений и факторов.

Схема должна предусматривать, по возможности, более подробное деление факторов.

Определение состава основных технологических факторов выполняют в следующей последовательности:

1) фиксируют мнения 5 - 10 экспертов и составляют схему, как показано на черт. 3.

2) обсуждают и выделяют (с использованием методов обработки экспертной информации) те факторы, которые существенно влияют на выполнение требований к рассматриваемому лимитирующему параметру.

3) из выявленных факторов опять выделяют важнейшие факторы и т.д. до тех пор, пока не будет составлен перечень основных технологических факторов.

Определения термина из разных документов: Анализ на уровне технологических факторов

2. Анализ на уровне ТП и операций

2.1. Анализ сводится к определению номенклатуры параметров ТП и (или) операций, лимитирующих выполнение требований к i-му ИПД. Анализ рекомендуется проводить с использованием схемы формирования i-гo ИПД (параметра) в соответствии с указаниями РД 50-581. При этом рассматриваемому ИПД должен быть поставлен в соответствие выходной параметр составляющего ТП (при изготовлении изделия в целом) или операции. Схема составляется на уровне сборочных единиц и деталей и (или) на уровне операций (в особо важных случаях для повышения эффективности мероприятий по обеспечению надежности изделия). Схема должна иметь иерархическую структуру и содержать основные элементы изделия (сборочные единицы, детали или операции), расположенные с учетом взаимных связей, с указанием их параметров.

Черт. 3

Для выделения лимитирующих параметров ТП необходимо определить оценки вероятностей выполнения требований по выходным параметрам ТП изготовления деталей и сборочных единиц (операций) и оценки коэффициентов передачи дефектов (по ГОСТ 27.202-83) по всем параметрам элементов схемы с учетом их взаимосвязи. На основании полученных оценок проводят симплификацию схемы: исключение отдельных параметров ТП, не оказывающих значимого влияния на выполнение требований к показателю назначения (эксплуатационному параметру) и определяют номенклатуру лимитирующих параметров ТП.

Определения термина из разных документов: Анализ на уровне ТП и операций