РД 50-706-91: Методические указания. Надежность в технике. Методы контроля надежности изделий по параметрам технологического процесса их изготовления


РД 50-706-91: Методические указания. Надежность в технике. Методы контроля надежности изделий по параметрам технологического процесса их изготовления

Терминология РД 50-706-91: Методические указания. Надежность в технике. Методы контроля надежности изделий по параметрам технологического процесса их изготовления:

1. Анализ на уровне ИПД

1.1. Анализ сводится к выделению (из рассматриваемой номенклатуры) ИПД, для которых разработка мероприятий по уменьшению частоты их появления (т.е. снижению вероятности pi)наиболее эффективна с точки зрения корректировки параметров функции распределения F0(t)и обеспечения требуемых значений показателей надежности.

1.2. Для проведения анализа ТП изготовления невосстанавливаемых изделий целесообразно строить эмпирическую функцию интенсивности отказов по данным о значениях piдля рассматриваемых ИПД и соответствующих их наработках Тi.

Эмпирическая функция интенсивности отказов представляет гистограмму, которая на интервалах времени

x020.gif

принимает значения

x022.gif

соответственно.

Пример такой функции представлен на черт. 1. Исходные данные для построения функции приведены в табл. 1.

x024.jpg

Черт. 1

В соответствии с гистограммой наибольшая интенсивность отказов связана с появлением первого, второго и четвертого ИПД, снижение вероятностей появления этих ИПД позволит наиболее существенно изменить параметры функции распределения F0(t).

Таблица 1

Обозначение i-гo ИПД (порядковый номер в ранжированном ряду)

Средняя наработка до отказа из-за i-гo ИПД

Вероятность появления i-гo ИПД Pi

1

100

0,05

2

500

0,15

3

1000

0,1

4

4000

0,2

5

6000

0,05

6

9000

0,10

7

13000

0,15

Таблица 2

Обозначение i-гo ИПД (порядковый номер в ранжированном ряду)

Вероятность появления i-гo ИПД Pi

1

0,2

2

0,15

3

0,15

4

0,05

5

0,03

6

0,01

x026.jpg

Черт. 2

1.3. Для проведения анализа ТП изготовления восстанавливаемых изделий целесообразно строить график причин отказов в виде диаграммы Парето. При составлении графиков ранжируют ИПД по значениям вероятностей piи строят кривую накопленных частостей (в долях единицы). При определении ИПД, лимитирующих надежность изделия, отмечают на шкале накопленных частостей значение (М - Мпр) и выделяют ИПД, суммарная частота отказов которых не менее этого значения.

Пример графика причин отказов представлен на черт. 2. Исходные данные для построения приведены в табл. 2.

Анализ графика показывает, что для порогового значения Мпр = 0,30 и М - Мпр = 0,29 (см. табл. 2) ликвидация первого и второго ИПД в изделиях позволит обеспечить требуемую надежность, так как в этом случае значение М составит: 0,15 + 0,05 + 0,03 + 0,01 = 0,24, что меньше, чем пороговое значение Мпр = 0,3.

1.4. Во всех случаях при проведении анализа рекомендуется учитывать затраты на разработку и реализацию мероприятий по уменьшению влияния отдельных ИПД. При этом, если известна зависимость затрат от изменения частости появления i-гo ИПД (для i = 1, ..., N), может решаться задача определения оптимального набора ИПД для проведения мероприятий по снижению их влияния на надежность.

Метод решения зависит от принятой целевой функции оптимизации и установленных ограничений.

Определения термина из разных документов: Анализ на уровне ИПД

3. Анализ на уровне технологических факторов

При определении состава основных технологических факторов, существенно влияющих на выполнение требований к j-му лимитирующему параметру ТП, (ИПД) целесообразно использовать схемы причинно-следственных связей (схемы Исикава).

При построении схем причинно-следственных связей результат (в данном случае - лимитирующий параметр ТП) изображается центральной стрелкой. Явления (факторы), прямо или косвенно влияющие на результат, изображают в виде стрелок, направленных острием к центральной линии (стрелке). При составлении схемы расположение стрелок, углы их наклона и другие формальные признаки не регламентируются и должна соблюдаться лишь подчиненность явлений и факторов.

Схема должна предусматривать, по возможности, более подробное деление факторов.

Определение состава основных технологических факторов выполняют в следующей последовательности:

1) фиксируют мнения 5 - 10 экспертов и составляют схему, как показано на черт. 3.

2) обсуждают и выделяют (с использованием методов обработки экспертной информации) те факторы, которые существенно влияют на выполнение требований к рассматриваемому лимитирующему параметру.

3) из выявленных факторов опять выделяют важнейшие факторы и т.д. до тех пор, пока не будет составлен перечень основных технологических факторов.

Определения термина из разных документов: Анализ на уровне технологических факторов

2. Анализ на уровне ТП и операций

2.1. Анализ сводится к определению номенклатуры параметров ТП и (или) операций, лимитирующих выполнение требований к i-му ИПД. Анализ рекомендуется проводить с использованием схемы формирования i-гo ИПД (параметра) в соответствии с указаниями РД 50-581. При этом рассматриваемому ИПД должен быть поставлен в соответствие выходной параметр составляющего ТП (при изготовлении изделия в целом) или операции. Схема составляется на уровне сборочных единиц и деталей и (или) на уровне операций (в особо важных случаях для повышения эффективности мероприятий по обеспечению надежности изделия). Схема должна иметь иерархическую структуру и содержать основные элементы изделия (сборочные единицы, детали или операции), расположенные с учетом взаимных связей, с указанием их параметров.

x028.jpg

Черт. 3

Для выделения лимитирующих параметров ТП необходимо определить оценки вероятностей выполнения требований по выходным параметрам ТП изготовления деталей и сборочных единиц (операций) и оценки коэффициентов передачи дефектов (по ГОСТ 27.202-83) по всем параметрам элементов схемы с учетом их взаимосвязи. На основании полученных оценок проводят симплификацию схемы: исключение отдельных параметров ТП, не оказывающих значимого влияния на выполнение требований к показателю назначения (эксплуатационному параметру) и определяют номенклатуру лимитирующих параметров ТП.

Определения термина из разных документов: Анализ на уровне ТП и операций

Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации. . 2015.

Смотреть что такое "РД 50-706-91: Методические указания. Надежность в технике. Методы контроля надежности изделий по параметрам технологического процесса их изготовления" в других словарях:

  • анализ — 3.8.7 анализ (review): Деятельность, предпринимаемая для установления пригодности, адекватности и результативности (3.2.14) рассматриваемого объекта для достижения установленных целей. Примечание Анализ может также включать определение… …   Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации

  • Анализ на уровне ТП и операций — 2. Анализ на уровне ТП и операций 2.1. Анализ сводится к определению номенклатуры параметров ТП и (или) операций, лимитирующих выполнение требований к i му ИПД. Анализ рекомендуется проводить с использованием схемы формирования i гo ИПД… …   Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации

  • Анализ на уровне ИПД — 1. Анализ на уровне ИПД 1.1. Анализ сводится к выделению (из рассматриваемой номенклатуры) ИПД, для которых разработка мероприятий по уменьшению частоты их появления (т.е. снижению вероятности pi)наиболее эффективна с точки зрения корректировки… …   Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации

  • Анализ на уровне технологических факторов — 3. Анализ на уровне технологических факторов При определении состава основных технологических факторов, существенно влияющих на выполнение требований к j му лимитирующему параметру ТП, (ИПД) целесообразно использовать схемы причинно следственных… …   Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации